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扫描电镜（SEM）信号探测是指利用扫描电镜产生的不同信号来探测样品表面的形貌、结构和成分等信息的过程。扫描电镜的主要信号有以下几种：

二次电子信号：由于样品表面与电子束的相互作用，产生大量二次电子。这些电子被探测器接收，形成图像。SE信号主要反映样品表面形貌。

回散电子信号：高能电子与样品原子相互作用，被散射到不同方向。其中，被散射角度较大的电子被探测器接收，形成图像。回散电子信号主要反映样品的化学成分和密度等信息。

X射线荧光信号：当电子束与样品相互作用时，会产生X射线。这些X射线被探测器接收，可以分析样品的元素成分和含量。

次级离子信号：电子束与样品相互作用时，会产生大量次级离子。这些离子被探测器接收，可以分析样品的化学成分。

光学信号：SEM中还可以加入一些光学附件，如偏振器、散光镜等，探测样品的光学性质。

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