原位透射电子显微镜光学-光电测量系统应用案例
日期：2017-12-20
CdS和ZnO都具有良好的光电性能，被认为在光电探测器等领域有着广阔的应用前景。但是，CdS一维材料存在低量子效率和低响应速度等问题，ZnO纳米材料也存在低响应速度和较差的光电流稳定性等问题。本文报道了一种有趣的树枝状CdS/ZnO异质结纳米材料，该材料相对于普通的CdS纳米带进一步提高了光电响应性能。结合原位透射电子显微镜光学-光电测量系统（ZepTools Technology Co., Ltd.），研究者们揭示了该材料结构特性与光电响应性能之间的联系。相关研究成果发表在《Nanoscale》上。
实验样品被粘在金针上，并安置于原位样品杆头部。金针的另一端是一个可三维操纵的光电探针。光电探针是由一个钨金属扫描探针和一根双向光纤组成。通过操纵光电探针，可以使探针与样品紧贴并形成回路，光信号也可通过光纤照到样品指定位置。光纤外接405 nm激光器后，可在TEM中对样品施加405 nm光信号，同时原位测量光电响应性能。
更多实验细节及研究案例可发送邮件至support@zeptools.com详询。公众号也会不断更新各种产品的研究案例。
公司原位TEM系列核心产品：
原位TEM纳米操纵手
原位TEM电学测量系统
原位TEM力学-电学测量系统
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原位TEM加热/电化学/电学/液体多功能测量系统
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原位TEM流动式气体测量系统
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图1：（a）CdS纳米带与CdS/ZnO树枝状异质结的XRD峰对比。（b）低倍数SEM下观测到的CdS/ZnO树枝状异质结。（c）（d）分别对应SEM和TEM下观测到的CdS/ZnO树枝状异质结。
图2：（a）原位透射电子显微镜光学-光电测量系统应用示意图。（b）原位透射电子显微镜光学-光电测量样品杆头部实拍图。
实验样品被粘在金针上，并安置于原位样品杆头部。金针的另一端是一个可三维操纵的光电探针。光电探针是由一个钨金属扫描探针和一根双向光纤组成。通过操纵光电探针，可以使探针与样品紧贴并形成回路，光信号也可通过光纤照到样品指定位置。光纤外接405 nm激光器后，可在TEM中对样品施加405 nm光信号，同时原位测量光电响应性能。
图3：CdS/ZnO树枝状异质结在TEM下的结构表征。
图4：（a）（b）分别对应CdS纳米带和CdS/ZnO异质结安置在原位光学-光纤样品杆中的TEM图像。（c）（d）分别对应CdS纳米带和CdS/ZnO异质结I-V曲线的开关特性。（e）（f）分别对应CdS纳米带和CdS/ZnO异质结对周期性光信号的响应特性。
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