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扫描电子显微镜主要用于观察什么?扫描电镜有哪些特点?下面泽攸科技小编就为大家讲解一下。扫描电子显微镜（SEM）是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。扫描电子显微镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
 
从原理上讲，扫描电子显微镜（SEM）是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。
 
扫描电子显微镜（SEM）可以直接观察观察纳米材料，进行材料断口的分析，直接观察原始表面等。
 
扫描电子显微镜（SEM）的特点
 
　　和光学显微镜及透射电镜相比，扫描电子显微镜（SEM）具有以下特点：
　　(一)能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
　　(二) 样品制备过程简单，不用切成薄片。
　　(三) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。
　　(四) 景深大，图象富有立体感。扫描电子显微镜（SEM）的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。
　　(五) 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。
　　(六) 电子束对样品的损伤与污染程度较小。
　　(七) 在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。

ZEM台式扫描电镜

 
以上就是泽攸科技小编讲解的扫描电子显微镜（SEM）主要用于观察的介绍，还有扫描电子显微镜的特点，想了解更多请咨询18817557412(微信同号)